Helios NanoLab DualBeam
Elektronenmikroskop
In der Materialwissenschaft besteht die Herausforderung für die Forscher darin, die Qualität der hergestellten Materialien und Geräte ständig zu verbessern. Das Verständnis struktureller und kompositorischer Details bis hinunter in den Nanobereich ist für technologische Fortschritte von größter Bedeutung. Helios NanoLab DualBeam wurde entwickelt, um multiskalige, mehrdimensionale Einblicke bis hinunter zu einer Auflösung im sub-nm-Bereich zu ermöglichen. Mit Helios NanoLab DualBeam lassen sich auch schnell Proben höchster Qualität für die S/TEM-Bildgebung mit atomarer Auflösung herstellen. Das hochpräzise, technisch ausgereifte Design wurde für maximale Benutzerfreundlichkeit und als Plattform für unterschiedliche Industrieanforderungen entwickelt und ist ein positives Spiegelbild der Marke FEI.
